Тестирование памяти

Существует два способа тестирования памяти — аппаратный и программный. В первом случае используются устройства, позволяющие с помощью специальных алгоритмов обнаружить дефектные микросхемы памяти (SIMM или DIMM) или микросхемы, подверженные сбоям. Аппаратные тестеры разделяются на несколько категорий.

К категории High-end ATE относятся устройства, используемые непосредственно изготовителями микросхем памяти: Samsung, Hyundai, Micron и т.п. Стоимость таких устройств — порядка 1 млн. долл., и они позволяют обнаружить дефекты на финальных стадиях изготовления микросхем.

Устройства среднего класса (стоимостью порядка 100 000 долл.) предназначены для конечных сборщиков, выполняющих тестирование большого количества модулей. Такие устройства обычно оснащаются автоматическими системами подачи микросхем, не требующими присутствия оператора.

Более простые устройства в ценовой категории от 1000 до 3000 долл. отличаются небольшим размером, легко переносимы с места на место и используются фирмами, занимающимися ремонтом и техническим обслуживанием компьютеров.

Для программного тестирования памяти можно воспользоваться двумя коммерческими программами — RAMexam фирмы Qualitas (http://www.qualitas.com/) и рассмотренной в нашем обзоре программой DocMemory фирмы Computer Service Technology (http://www.simmtester.com/).

Программы для тестирования памяти относительно недороги — от 10 до 200 долл., и они обычно используются на специальных загрузочных дискетах. Основным недостатком программ тестирования памяти является то, что они не могут работать в тех случаях, когда компьютер не загружается из-за сбоев памяти или неверно сконфигурированной материнской платы. Помимо этого программы тестирования не могут обнаружить дефектный модуль и не способны выполнять усложненные типы тестов, например тестирование с разогревом микросхем.